產品-內頁

<p id="mrff0"></p>

<object id="mrff0"><strong id="mrff0"><noframes id="mrff0">

<td id="mrff0"><option id="mrff0"></option></td>

ENGLISH | 簡中 | 繁中

您所在的位置 > 首頁 > 工業檢測設備 > 半導體測量

Nikon OST3000 / 12" Wafer Inspection

Nikon Wafer Bump Measure CF-NX

Nikon Wafer Bump Measure VMR-OCDM

NWL200 8"晶圓檢查系統

Nikon OST3100 /12" Wafer Inspection

HAP-HERO? FAB( for 200 mm openSMIF cassette )

半導體HAP-HERO? FAB (for 300 mm FOUP )

半導體HAP-HERO? FAB for SMIF 4 x 4

空間測量儀器: 大地測量; 航空測量; 測量配件; 測量軟件; 工程測量

工業檢測設備: 非接觸式測量儀器; 接觸式測量儀器; 金相&立顯; 半導體測量; 軟件&配件; 相關產品

購物商城: 阿里巴巴; 淘寶; 京東

新聞專區: 公司新聞; 行業新聞; 展會信息; 促銷活動

聯系我們: 關于中翰; 證書展示; 合作伙伴; 聯系信息; 人才招聘

電話： 010-62553066
010-62565779（總機）

傳真： 010-62566652

測量部：400-172-5117

測定部：400-820-5501

京ICP備17017922號-1 Copyright 2016 北京中翰儀器有限公司 All Rights Reserved.

京公網安備 11010802023869號

亚洲中国最大av网站

<p id="mrff0"></p>

<object id="mrff0"><strong id="mrff0"><noframes id="mrff0">

<td id="mrff0"><option id="mrff0"></option></td>